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在上一期《進階之旅|如何提升粉末衍射檢測靈敏度》推文中，我們介紹了在日常工作中通過優化制樣、測量參數和光路模塊來提高對微量晶型（混合物中的低含量成分）和微量樣品（總量極低的樣品）的檢測靈敏度。現在，我們來看一看如何應對特殊元素構成的樣品。01丨消除樣品熒光干擾?使用銅靶X光管進行粉末衍射時，如果樣品中銅、鎳、鐵、鈷、錳這幾個元素含量較高，用戶可能會面臨著高強度樣品熒光背景的挑戰。全角度熒光提高了數據的背景強度，弱衍射峰不易從背景中識別出來，影響分析。三種針對不同元素熒光干擾的...

本系列中我們陸續介紹了一些針對落地式XRD的用戶日常儀器檢查維護技巧，本篇將向大家繼續介紹XRD一些周期較長的維護及自檢內容。月檢：空壓機排水空壓機為XRD提供干燥、潔凈、穩定壓力的壓縮空氣，為快門、自動門、探測器提供輔助動力，確保其正常運行。空壓機的狀態直接關聯XRD的運行穩定性和數據質量，要非常重視它的定期維護。在潮濕的環境下每半個月需要為空壓機排水一次，干燥的實驗室環境下，每月排水一次。圖1空壓機圖2排水閥門季檢1：X射線輻射劑量檢查馬爾文帕納科XRD作為一臺射線裝置，...

納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術的物理性能測試儀器，通過追蹤納米顆粒的布朗運動和光散射特性，實現粒徑、濃度及Zeta電位等多參數測量。該儀器核心光學系統包含激光散射視頻顯微鏡和高靈敏度CMOS傳感器，支持10-2000nm粒徑檢測范圍，并具備熒光檢測功能。其工作原理是通過激光束照射納米顆粒懸浮液，利用顯微鏡捕捉顆粒散射光形成的移動光點，相機以每秒約30幀的速度記錄顆粒布朗運動軌跡，專用軟件通過斯托克斯-愛因斯坦方程推算粒徑分布，精度可達4nm，同時提...

納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術的物理性能測試儀器，通過追蹤納米顆粒的布朗運動和光散射特性，實現粒徑、濃度及Zeta電位等多參數測量。該儀器利用激光散射視頻顯微鏡和高靈敏度CMOS傳感器，捕捉納米顆粒在液體中的布朗運動軌跡。通過分析顆粒的擴散系數，結合斯托克斯-愛因斯坦方程，計算其流體力學直徑，精度可達4nm。同時，支持熒光檢測功能，可識別熒光標記顆粒，實現多參數同步分析。以下是納米顆粒跟蹤分析儀其主要結構特點：一、高精度光學系統：實現單顆粒可視化光...

激光粒度分析儀是一種基于光散射原理的高精度顆粒測量儀器，廣泛應用于材料科學、工業生產及環境監測等領域。其核心原理是：當激光束照射到顆粒時，會發生衍射和散射現象，散射光的強度與角度分布與顆粒大小密切相關。通過測量不同角度的散射光信號，并利用Mie散射理論或Furanhofer衍射理論進行計算，可精確推導出顆粒的粒徑分布。在應用領域方面，激光粒度分析儀發揮著重要作用。在材料科學中，它用于分析金屬粉末、陶瓷原料及納米顆粒的粒度分布，優化材料性能；在工業生產中，它助力涂料、化工及水泥...