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納米粒度電位儀是一種集納米粒度分析與Zeta電位測量功能于一體的精密分析儀器，廣泛應用于材料科學、生物醫學、環境科學等領域。其核心原理基于動態光散射（DLS）與電泳光散射（ELS）技術，通過激光照射顆粒產生的散射光信號，結合斯托克斯-愛因斯坦方程與亨利方程，同步推算顆粒的粒徑分布與表面電荷特性。在粒度分析方面，該儀器可實現0.3nm至10μm的粒徑范圍測量，濃度覆蓋0.1ppm至40%w/v，支持多角度散射光檢測（如175°與12.8°）以消除多重散射干擾。例如，在蛋白質溶液...

本文摘要先分享一個好消息，從2024年10月發布的HighScore5.3版本開始，腳本功能將擴展到無Plus功能的HIghScore軟件版本，因此從本篇文章開始本系列更名為《HighScore腳本入門》。在本系列的第一篇文章中介紹了HighScorePlus軟件的腳本支持功能，并展開說明了腳本語言的程序結構和數據類型及常規的賦值和運算語句。本篇我們來說一說腳本程序代碼中的流程控制。流程控制條件語句程序執行中，有時候需要判斷某個條件是否滿足，根據判斷結果實施不同的操作，這就需...

納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于光散射原理的先進技術，用于實時測量液體中納米顆粒（粒徑范圍通常為10-2000nm）的濃度和粒徑分布。其核心優勢在于無需假設顆粒形狀或密度，可直接通過顆粒的布朗運動軌跡進行統計分析，適用于生物分子（如外泌體、病毒）、藥物載體、納米材料等復雜體系的表征。納米顆粒跟蹤分析儀的日常保養：1、清潔外部使用柔軟、干凈的布輕輕擦拭儀器的外殼，去除灰塵和污漬。避免使用含有腐蝕性化學物質的清潔劑，以免損壞儀器表面涂層。對于頑固污漬，可以使用少量溫和的中性清潔劑，但...

激光噴霧粒度儀是一種重要的粒度分析儀器，其基于激光散射原理進行工作。當一束激光照射到噴霧中的顆粒時，顆粒會對激光產生散射。散射光的強度和角度與顆粒的大小、形狀、折射率等因素有關。通過測量不同角度上的散射光強度，可以得到顆粒的粒度分布信息。這一原理依賴于米氏散射理論，即光線通過含有顆粒的不均勻介質時，與顆粒產生相互作用，發生吸收、反射、折射、透射和衍射等現象，使得光線偏離原先的光路。激光噴霧粒度儀其核心組成部分包括以下模塊：1、光學系統激光光源通常采用半導體激光器（如波長635...

本文摘要使用Zetasizer納米粒度電位儀進行預制備樣品電位測量時，樣品中產生的氣泡會顯著影響測量結果。本文將通過實際案例展示如何通過超聲脫氣與馬爾文帕納科的擴散屏障法[2]結合使用，來保障預制備樣品電位結果的數據質量和一致性。01丨前言提到氣泡，可能會聯想到游戲和有趣，但在科學測量領域，它們往往帶來更多的是辛苦和麻煩。使用納米粒度電位儀進行電位測量，通常情況下，當樣品制備好后立即進行電位測量時，氣泡很少會有影響。然而，當我們分析大批量樣品，需要高通量的方法，使用一些自動進...